CORRELATION BETWEEN ANOMALOUS LATCH-UP I-V CHARACTERISTICS AND OBSERVATION OF CURRENT DISTRIBUTION BY IR MICROSCOPY IN CMOS IC'S / Corsi, Francesco; Canali, C; Muschitiello, M; Zanoni, E.. - In: ELECTRONICS LETTERS. - ISSN 0013-5194. - 24:4(1988).
CORRELATION BETWEEN ANOMALOUS LATCH-UP I-V CHARACTERISTICS AND OBSERVATION OF CURRENT DISTRIBUTION BY IR MICROSCOPY IN CMOS IC'S
CORSI, Francesco;
1988-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.