A system monitoring the spatial and intensity distribution on CCD patterns applied to in situ characterization / Carpentieri, Mario; Silveira, Jp; Giannetti, R.. - (2003), pp. 746-749. (Intervento presentato al convegno Proceeding of XVII Imeko World Congress tenutosi a Dubrovnik - CROATIA nel June 22-27, 2003).
A system monitoring the spatial and intensity distribution on CCD patterns applied to in situ characterization
CARPENTIERI, Mario;
2003-01-01
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