Sfoglia per Autore
Physical Defects vs Circuit Faults in a CMOS Programmable Logic Device
1990-01-01 Corsi, Francesco; Martino, S; DE VENUTO, Daniela
Impiego del Fascio Elettronico per il Rilievo di Forme d'Onda Veloci su Conduttori Micrometrici
1991-01-01 Chiorboli, G; Corsi, F; DE VENUTO, Daniela; Morandi, C; Grasso, G.
Modeling the Electrical Behavior of an EPLD Cell Array, in the Presence of Lithography Induced Spot Defects
1991-01-01 Corsi, F.; De Venuto, D; Martino, S; Morandi, C
Fault Diagnosis in VLSI IC's by Simultaneous use of Scanning Electron and Tunneling Microscopy
1992-01-01 Bonati, B; Corsi, Francesco; DE VENUTO, Daniela; Selci, S.
The impulse response of an EBT system
1992-01-01 Chiorboli, G.; De Venuto, D.; Martino, S.
ENHANCING THE TIME RESOLUTION OF AN EBT SYSTEM VIA THE PRIMARY ELECTRON PULSE SHAPE MEASUREMENT
1993-01-01 Corsi, Francesco; Chiorboli, G; De Venuto, Daniela; Morandi, C; Portacci, G.
Applicazioni del DSP alla diagnostica industriale
1993-01-01 Andria, Gregorio; DE VENUTO, Daniela; Savino, M.; Trotta, Amerigo
Enhancing the Time Resolution of an EBT System via the Primary Electron Pulse Shape Measurement
1993-01-01 Corsi, F; Chiorboli, G; DE VENUTO, Daniela; Morandi, C; Portacci, Gv
Conctact-less frequency measurement and sampling reconstruction of electronic signals with picosecond resolution
1994-01-01 Corsi, F; DE VENUTO, Daniela; Portacci, Gv; Breglio, G; Cutolo, A; Zeni, L.
Primary Electron Pulse Shape Evaluation in an EBT System
1994-01-01 Corsi, F.; De Venuto, D.; Portacci, G. V.
Enhancing the time resolution of an EBT system via the primary electron pulse shape measurement
1994-01-01 Corsi, F.; Chiorboli, G.; De Venuto, D.; Morandi, C.; Portacci, G. V.
CONTACTLESS FREQUENCY MEASUREMENT AND SAMPLING RECONSTRUCTION OF ELECTRONIC SIGNALS WITH PICOSECOND RESOLUTION
1994-01-01 Corsi, Francesco; De Venuto, Daniela; Portacci, G; Breglio, G; Cutolo, A; Zeni, L.
Gain switched laser diodes for the characterization of subnanosecond voltage pulses
1994-01-01 Breglio, G.; Cutolo, A.; Zeni, L.; Corsi, F.; De Venuto, D.; Portacci, G. V.
STEPS TOWARD THE USE OF SILICON DRIFT DETECTORS IN HEAVY ION COLLISION AL LHC
1995-01-01 Gramegna, G; Corsi, Francesco; Cantatore, E; De Venuto, Daniela; Marzocca, C.
Designing input stimuli for linear filter testing
1995-01-01 Cantatore, E; Corsi, Francesco; DE VENUTO, Daniela; Gramegna, G; Marzocca, Cristoforo; Vino, Fp
Detection of internal signals in silicon ic’s via cw low power laser probe
1995-01-01 DE VENUTO, Daniela; Corsi, F; Portulano, S.
DETECTION OF INTERNAL SIGNALS IN SILICON IC'S VIA CONTINUOUS WAVE LOW POWER LASER PROBE
1995-01-01 De Venuto, Daniela; Corsi, Francesco; Portulano, S.
Use of field plate in a linear silicon drift detector (SDD)
1995-01-01 Gramegna, G.; Corsi, F.; Cantatore, E.; Cuomo, M.; De Venuto, D.; Marzocca, C.; Portacci, G. V.; Vacchi, A.; Manzari, V.; Navach, F.; Beolé, S.; Casse, G.; Giubellino, P.; Riccati, L.; Burger, P.
Designing a Linear Silicon Drift Detector
1995-01-01 Gramegna, C.; Corsi, F.; De Venuto, D.; Marzocca, C.; Vacchi, A.; Manzari, V.; Navach, F.; Beole, S.; Casse, G.; Giubellino, P.; Riccati, L.; Burger, P.
Steps towards the use of silicon drift detectors in heavy ion collisions at LHC
1995-01-01 Beolè, S.; Burger, P.; Cantatore, Elio; Casse, G.; Corsi, F.; Cuomo, M.; D ąabrowski, W.; De Venuto, D.; Giubellino, P.; Gramegna, G.; Manzari, V.; Marzocca, C.; Navach, F.; Portacci, G.; Riccati, L.; Vacchi, A.
Legenda icone
- file ad accesso aperto
- file disponibili sulla rete interna
- file disponibili agli utenti autorizzati
- file disponibili solo agli amministratori
- file sotto embargo
- nessun file disponibile