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Titolo Data di pubblicazione Autori File
Physical Defects vs Circuit Faults in a CMOS Programmable Logic Device 1-gen-1990 CORSI, FrancescoDE VENUTO, Daniela +
Impiego del Fascio Elettronico per il Rilievo di Forme d'Onda Veloci su Conduttori Micrometrici 1-gen-1991 DE VENUTO, Daniela +
Modeling the Electrical Behavior of an EPLD Cell Array, in the Presence of Lithography Induced Spot Defects 1-gen-1991 Corsi F.De Venuto D +
Fault Diagnosis in VLSI IC's by Simultaneous use of Scanning Electron and Tunneling Microscopy 1-gen-1992 CORSI, FrancescoDE VENUTO, Daniela +
ENHANCING THE TIME RESOLUTION OF AN EBT SYSTEM VIA THE PRIMARY ELECTRON PULSE SHAPE MEASUREMENT 1-gen-1993 CORSI, FrancescoDe Venuto, Daniela +
Applicazioni del DSP alla diagnostica industriale 1-gen-1993 ANDRIA, GregorioDE VENUTO, DanielaTROTTA, Amerigo +
Enhancing the Time Resolution of an EBT System via the Primary Electron Pulse Shape Measurement 1-gen-1993 DE VENUTO, Daniela +
Conctact-less frequency measurement and sampling reconstruction of electronic signals with picosecond resolution 1-gen-1994 DE VENUTO, Daniela +
CONTACTLESS FREQUENCY MEASUREMENT AND SAMPLING RECONSTRUCTION OF ELECTRONIC SIGNALS WITH PICOSECOND RESOLUTION 1-gen-1994 CORSI, FrancescoDe Venuto, Daniela +
Detection of internal signals in silicon ic’s via cw low power laser probe 1-gen-1995 DE VENUTO, Daniela +
DETECTION OF INTERNAL SIGNALS IN SILICON IC'S VIA CONTINUOUS WAVE LOW POWER LASER PROBE 1-gen-1995 De Venuto, DanielaCORSI, Francesco +
Designing input stimuli for linear filter testing 1-gen-1995 CORSI, FrancescoDE VENUTO, DanielaMARZOCCA, Cristoforo +
A Statistical Approach to the Parametric Fault Testing of Analogue Circuits 1-gen-1996 CORSI, FrancescoDE VENUTO, DanielaMARZOCCA, Cristoforo +
Accounting for Device Variation in Analogue Circuit Testing 1-gen-1996 DE VENUTO, Daniela +
A STATISTICAL APPROACH TO THE PARAMETRIC FAULT TESTING OF ANALOG CIRCUITS 1-gen-1996 CORSI, FrancescoDe Venuto, DanielaMARZOCCA C. +
Una Tecnica per il Collaudo delle Prestazioni Dinamiche di Circuiti Integrati Analogici CMOS 1-gen-1996 DE VENUTO, Daniela +
An Approach to the Specification Driven Testing of Analogue Circuits 1-gen-1996 De Venuto, DanielaMarzocca, CristoforoCorsi, Francesco +
Optical probing of internal signals in silicon ICs 1-gen-1996 D. De VenutoF. Corsi +
Use of a laser beam probe for the non-invasive measurement of signals in silicon ICs 1-gen-1996 DE VENUTO, DanielaCORSI, Francesco
A Time Domain Technique for Analogue Filter Testing 1-gen-1997 DE VENUTO, DanielaMARZOCCA, Cristoforo +
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 137
  • 4.1 Contributo in Atti di convegno 137
Autore
  • Mezzina, Giovanni 37
  • Corsi, Francesco 15
  • Marzocca, Cristoforo 5
  • Saragaglia, Cataldo Luciano 5
  • Mascellaro, Grazia 4
  • BRUNETTI, ALBERTO FAKHRI 3
  • Ciccarese, Dionisio 3
  • Di Sciascio, Eugenio 3
  • Annese, Valerio Francesco 2
  • Boggia, Gennaro 2
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 23
  • 2010 - 2019 50
  • 2000 - 2009 35
  • 1990 - 1999 29
Editore
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Rivista
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Serie
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  • PROCEEDINGS IEEE INTERNATIONAL CO... 2
  • ADVANCES IN COMPUTER SCIENCE RESE... 1
  • BIOMEDICAL CIRCUITS AND SYSTEMS C... 1
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Keyword
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