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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Titolo Data di pubblicazione Autori File
Testing the Analogue Front-end of a Pixel Detector 1-gen-1997 DE VENUTO, Daniela +
Testing the Analogue Front-end of a Mixed-Signal Pixel Detector Circuit Using the Complementary Signal 1-gen-1998 DE VENUTO, Daniela +
Investigation of Radiation Damages in Analogue Front-End of a Pixel Detector 1-gen-1998 DE VENUTO, Daniela +
Time-Domain Based Testing of a Mixed-Signal Telephone I.C. 1-gen-1998 DE VENUTO, Daniela +
Testing the Analogue Front-end of a Pixel Detector for Radiation Damages 1-gen-1998 DE VENUTO, Daniela +
INVESTIGATION OF RADIATION DAMAGES IN ANALOG FRONT END OF A PIXEL DETECTOR 1-gen-1998 DE VENUTO, DanielaCORSI, Francesco
Layout-Based Defect Analysis and Test of Radiation Hardened Mixed-Signal Circuits 1-gen-1999 DE VENUTO, DanielaCORSI, Francesco +
Layout-Based Defect Analysis of Closed Geometry NMOS Transistor Designs 1-gen-1999 DE VENUTO, DanielaCORSI, Francesco +
Dynamic testing for radiation induced failures in a standard CMOS submicron technology pixel front-end 1-gen-1999 D. De Venuto +
Fotodiodi Pin In Silicio Per Imaging Con Raggi X 1-gen-2000 DE VENUTO, Daniela +
Bias-Programmable Hardware Reconfiguration for On-Chip Test Response Evaluation 1-gen-2000 DE VENUTO, Daniela +
Static and dynamic on-chip test response evaluation using a two-mode comparator 1-gen-2000 DE VENUTO, DanielaMATARRESE, Gianvito +
Electro-optical characterization of high-speed silicon PIN photodiodes 1-gen-2001 DE VENUTO, Daniela +
IDDQ: optimal test technique for SOI CMOS technology? 1-gen-2001 DE VENUTO, Daniela +
On-Chip Signal Level Evaluation for Mixed-Signal ICs using Digital Window Comparators 1-gen-2001 DE VENUTO, Daniela +
Kink Effect Modelling for the Fault Simulation of CMOS/SOI Mixed-Signal Circuits 1-gen-2002 DE VENUTO, Daniela +
Testing of Analogue Circuits via (Standard) Digital Gates 1-gen-2002 D. De Venuto +
Investigations into Testability Improvements on a 16 bit Audio Sigma-Delta ADC through the use of On-Chip Techniques 1-gen-2003 DE VENUTO, Daniela +
Self-Positioning Digital Window Comparators for Mixed-Signal DfT 1-gen-2003 DE VENUTO, Daniela +
Automatic Repositioning Technique for Digital Cell Based Window Comparators and Implementation within Mixed-Signal DFT Schemes 1-gen-2003 D. De Venuto +
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 137
  • 4.1 Contributo in Atti di convegno 137
Autore
  • Mezzina, Giovanni 37
  • Corsi, Francesco 15
  • Marzocca, Cristoforo 5
  • Saragaglia, Cataldo Luciano 5
  • Mascellaro, Grazia 4
  • BRUNETTI, ALBERTO FAKHRI 3
  • Ciccarese, Dionisio 3
  • Di Sciascio, Eugenio 3
  • Annese, Valerio Francesco 2
  • Boggia, Gennaro 2
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 23
  • 2010 - 2019 50
  • 2000 - 2009 35
  • 1990 - 1999 29
Editore
  • IEEE 78
  • Institute of Electrical and Elect... 3
  • Springer Science and Business Med... 3
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  • Springer Nature 2
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Rivista
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Serie
  • LECTURE NOTES IN ELECTRICAL ENGIN... 7
  • PROCEEDINGS INTERNATIONAL SYMPOSI... 5
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  • PROCEEDINGS - DESIGN, AUTOMATION,... 3
  • PROCEEDINGS DESIGN, AUTOMATION, A... 2
  • PROCEEDINGS IEEE INTERNATIONAL CO... 2
  • ADVANCES IN COMPUTER SCIENCE RESE... 1
  • BIOMEDICAL CIRCUITS AND SYSTEMS C... 1
  • IEEE International High Level Des... 1
  • IEEE INTERNATIONAL WORKSHOP ON AD... 1
Keyword
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  • Classification 4
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Lingua
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